跳到主要內容區
回首頁   |    高科大    |   網站管理
 

資訊分類清單

相關法規原頁面開啟
表單下載原頁面開啟
常見Ｑ＆Ａ原頁面開啟

快速搜尋

【I793446】檢測水中銅離子方法及其系統

書目
公告號 I793446 公開202210812
公告日 2023/02/21
公報卷期 50-06
證書號 I793446
申請號 109130819 E
申請日 2020/09/08
公報IPC G01N 21/3577(2014.01)
當前IPC G01N 21/3577(2014.01)
申請人 國立高雄科技大學 高雄市三民區建工路415號 (中華民國);
NATIONAL KAOHSIUNG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY 415 CHIEN-KUNG RD., KAOHSIUNG, TAIWAN (TW)
當前專利權人 國立高雄科技大學; NATIONAL KAOHSIUNG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
發明人 李孟珊 (中華民國); LEE, MENG SHAN (TW);
黃芷琪 (中華民國); HUANG, CHIH CHI (TW)
代理人 顏豪呈; 王志中
審查委員 林永昌
摘要 一種檢測水中銅離子方法包含：將一待檢測水體進行稀釋至一銅濃度範圍，以獲得一已稀釋待檢測水體；將該已稀釋待檢測水體進行過濾，以獲得一已過濾待檢測水體；利用一廣域波長光源照射該已過濾待檢測水體，並利用一高光譜儀裝置接收一待檢測水體反射光，以獲得一光譜資料；利用該光譜資料以一反射率模型計算至少一水體反射率特徵；及利用該反射率模型進行計算該水體反射率特徵而產生一銅濃度計算值，例如：一預測濃度。

參考文獻
引用專利 CN103983589A E; CN107478580B E
引用非專利 網路文獻 Lee, M.; Chen, X. -Y.; Lee, H. -C., Spectral Preprocessing for Hyperspectral Remote Sensing of Heavy Metals in Water ISPRS International Archives of the Photogrammetry, Remote Sensing and Spatial Information Sciences, ,June 2019, Volume XLII-2/W13 pp.1869-1873;
網路文獻 Chen, X., Lee, H., and Lee, M., “Feasibility of Using Hyperspectral Remote Sensing for Environmental Heavy Metal Monitoring” International Archives of the Photogrammetry, Remote Sensing and Spatial Information Sciences, vol. 42 12-14 March 2019 doi:10.5194/isprs-archives-XLII-3-W7-1-2019

專利範圍   原始格式 
專利範圍 1.一種檢測水中銅離子系統，其包含：一待檢測稀釋單元，其將一待檢測水體進行稀釋至一銅濃度範圍，以獲得一已稀釋待檢測水體；一過濾單元，其將該已稀釋待檢測水體進行過濾，以獲得一已過濾待檢測水體；一廣域波長光源，其用以於一檢測箱體內照射該已過濾待檢測水體；一高光譜儀裝置，其用以於該檢測箱體內接收一待檢測水體反射光，以便自該已過濾待檢測水體取得一光譜資料；及至少一特徵計算模型，其利用該光譜資料以一反射率模型計算至少一水體反射率特徵，其不受葉綠素影響；其中利用該反射率模型進行計算該水體反射率特徵而產生一銅濃度計算值，且該反射率模型包含一對數轉換模型。

2.依申請專利範圍第1項所述之檢測水中銅離子系統，其利用該檢測箱體容置該廣域波長光源及高光譜儀裝置，以便進行一檢測銅離子作業。

3.依申請專利範圍第1項所述之檢測水中銅離子系統，其中該待檢測水體包含一工業廢水體、一家庭污水體、一養殖水體、一魚塭水體、一自來水體、一水庫水體、一湖泊水體或一海水體。

4.依申請專利範圍第1項所述之檢測水中銅離子系統，其中該廣域波長光源之一預定波長光由一鹵素光源或一氘光光源產生。

5.依申請專利範圍第1項所述之檢測水中銅離子系統，其中該高光譜儀裝置選自一紅外光高光譜儀裝置、一近紅外光高光譜儀裝置或一短波近紅外光高光譜儀裝置。

6.一種檢測水中銅離子方法，其包含：將一待檢測水體進行稀釋至一銅濃度範圍，以獲得一已稀釋待檢測水體；將該已稀釋待檢測水體進行過濾，以獲得一已過濾待檢測水體；利用一廣域波長光源於一檢測箱體內照射該已過濾待檢測水體，並利用一高光譜儀裝置於該檢測箱體內接收一待檢測水體反射光，以獲得一光譜資料；利用該光譜資料以一反射率模型計算至少一水體反射率特徵，其不受葉綠素影響；及利用該反射率模型進行計算該水體反射率特徵而產生一銅濃度計算值，且該反射率模型包含一對數轉換模型。

7.依申請專利範圍第6項所述之檢測水中銅離子方法，其中該待檢測水體具有一濁度值，且該濁度值低於一預定濁度值。

8.依申請專利範圍第6項所述之檢測水中銅離子方法，其中該水體反射率特徵包含一第一反射率特徵值及一第二反射率特徵值，且該第一反射率特徵值及第二反射率特徵值適用於該反射率模型。

9.依申請專利範圍第6項所述之檢測水中銅離子方法，其中該反射率模型採用一多元線性迴歸方式建立一數學預測模型。

10.依申請專利範圍第6項所述之檢測水中銅離子方法，其中該高光譜儀裝置選自一紅外光高光譜儀裝置、一近紅外光高光譜儀裝置或一短波近紅外光高光譜儀裝置。
瀏覽數:
登入成功