| 公告號 |
I790668 公開202302372 |
| 公告日 |
2023/01/21 |
| 公報卷期 |
50-03 |
| 證書號 |
I790668 |
| 申請號 |
110124456 E |
| 申請日 |
2021/07/02 |
| 公報IPC |
B33Y 50/00(2015.01); G06N 3/06(2006.01); G06N 3/10(2006.01) |
| 當前IPC |
B33Y 50/00(2015.01); G06N 3/06(2006.01); G06N 3/10(2006.01) |
| 申請人 |
國立高雄科技大學 高雄市三民區建工路415號 (中華民國);
NATIONAL KAOHSIUNG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY NO. 415, JIANGONG RD., SANMIN DIST., KAOHSIUNG CITY, TAIWAN, R.O.C. (TW) |
| 當前專利權人 |
國立高雄科技大學; NATIONAL KAOHSIUNG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY |
| 發明人 |
楊浩青 (中華民國); YANG, HAO-CHING (TW);
陳岱儀 (中華民國); CHEN, TAI-YI (TW) |
| 代理人 |
李世章; 秦建譜 |
| 審查委員 |
林衍孝 |
| 摘要 |
一種積層表面品質預測方法,包含:獲得積層製造機台分別形成工件產品上依序堆疊層狀結構時所獲得或使用的加工資料。接著,輸入工件產品之加工資料至第一預測模型,以預測出一組融池尺寸預測資料。接著,輸入對應至工件產品之加工資料至第二預測模型,以預測出融池亮度預測資料。然後,進行預測操作,以輸入加工資料、融池尺寸預測資料以及融池亮度預測資料至品質預測模型,而預測出工件產品之品質狀態。 |