專利名稱

非接觸式物體輪廓量測系統

申請號

108110331

申請日

2019/03/25

專利證號

I693374

專利權人

國立高雄科技大學

發明人

許光城、梁軒齊、葉自容

主IPC分類碼

G01B 11/24(2006.01); G05B 19/05(2006.01); G05D 3/12(2006.01)

專利摘要

本發明提供一種非接觸式物體輪廓量測系統，包含一基座、一光學測微計、一旋轉機構、一電腦及一待測件，光學測微計安裝於基座的一支架，光學測微計包含一發光器、一接收器及一控制器，接收器接收發光器發射的一帶狀平行光柵，旋轉機構安裝於基座的一基板，旋轉機構的一馬達將輸出通過一減速機傳遞至一置放座旋轉。將一待測件置於置放座由置放座驅動旋轉，待測件的輪廓依序通過帶狀平行光柵，控制器將待測件的輪廓資料傳輸一電腦，使用電腦中的資料蒐集程式將輪廓資料進行存取，將其誤差數據以圖表方式顯示並計算待測件的內外輪廓等數據。