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【I780465】護目鏡瑕疵檢測處理方法及其系統
| 公告號 | I780465 公開202206791 |
| 公告日 | 2022/10/11 |
| 公報卷期 | 49-29 |
| 證書號 | I780465 |
| 申請號 | 109127232 E |
| 申請日 | 2020/08/11 |
| 公報IPC | G01M 11/02(2006.01); G01N 21/958(2006.01); G01N 23/20(2018.01); G01N 33/00(2006.01) |
| 當前IPC | G01M 11/02(2006.01); G01N 21/958(2006.01); G01N 23/20(2018.01); G01N 33/00(2006.01) |
| 申請人 | 國立高雄科技大學 高雄市三民區建工路415號 (中華民國); NATIONAL KAOHSIUNG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY 415 CHIEN-KUNG RD., KAOHSIUNG, TAIWAN (TW) |
| 當前專利權人 | 國立高雄科技大學; NATIONAL KAOHSIUNG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY |
| 發明人 | 王敬文 (中華民國); WANG, JING WEIN (TW) |
| 代理人 | 顏豪呈; 王志中 |
| 審查委員 | 盧贊文 |
| 摘要 | 一種護目鏡瑕疵檢測處理方法包含：將一陣列光源照射至一待測護目鏡上，以獲得一護目鏡光照投影；利用一取像攝影單元對應取像於該待測護目鏡上，以取得一護目鏡光照RGB影像；將該護目鏡光照RGB影像進行色彩空間轉換，以獲得一色彩空間轉換影像；將該色彩空間轉換影像進行二值化處理，以取得一二值化影像；及自該二值化影像進行擷取至少一相關瑕疵資訊，且該相關瑕疵資訊包含一瑕疵座標或一瑕疵數量。 |
| 專利範圍 | 1.一種護目鏡瑕疵檢測處理方法，其包含：將一陣列光源照射至一待測護目鏡上，以獲得一護目鏡光照投影；利用一取像攝影單元對應取像於該待測護目鏡上，以取得一護目鏡光照RGB影像；將該護目鏡光照RGB影像進行色彩空間轉換，以獲得一色彩空間轉換影像；將該色彩空間轉換影像進行二值化處理，以取得一二值化影像；及自該二值化影像進行擷取至少一相關瑕疵資訊，且該相關瑕疵資訊包含一瑕疵座標或一瑕疵數量。 2.依申請專利範圍第1項所述之護目鏡瑕疵檢測處理方法，其中將該色彩空間轉換影像進行計算其能量，並進一步進行邊緣平滑化處理，以獲得一瑕疵邊緣增益影像。 3.依申請專利範圍第1項所述之護目鏡瑕疵檢測處理方法，其中該二值化影像之二值化處理採用大津二值化演算法。 4.依申請專利範圍第1項所述之護目鏡瑕疵檢測處理方法，其中該二值化影像之擷取瑕疵採用一正向投影法，以獲得至少一最大值座標。 5.依申請專利範圍第1項所述之護目鏡瑕疵檢測處理方法，其中該二值化影像之擷取瑕疵採用一逆向投影法，以獲得至少一最小值座標。 6.一種護目鏡瑕疵檢測處理系統，其包含：至少一光源陣列單元，其提供一陣列光源，且將該陣列光源照射至一待測護目鏡上，以獲得一護目鏡光照投影；至少一取像攝影單元，其對應取像於該待測護目鏡上，以取得一護目鏡光照RGB影像；及一計算單元，其連接至該取像攝影單元；其中利用該計算單元將該護目鏡光照RGB影像進行色彩空間轉換，以獲得一色彩空間轉換影像，並將該色彩空間轉換影像進行二值化處理，以取得一二值化影像，且自該二值化影像進行擷取至少一相關瑕疵資訊，且該相關瑕疵資訊包含一瑕疵座標或一瑕疵數量。 7.依申請專利範圍第6項所述之護目鏡瑕疵檢測處理系統，其中該計算單元採用一自適性能量基邊緣偵測器，且利用該自適性能量基邊緣偵測器平滑化該色彩空間轉換影像之一L通道影像，或利用該自適性能量基邊緣偵測器增益一瑕疵影像。 8.依申請專利範圍第6項所述之護目鏡瑕疵檢測處理系統，其中該計算單元另採用高階奇異值分解於一瑕疵影像，以獲得一已高階奇異值分解影像，以便分類至少一瑕疵種類。 9.依申請專利範圍第8項所述之護目鏡瑕疵檢測處理系統，其中該瑕疵影像包含一R通道瑕疵影像、一G通道瑕疵影像及一B通道瑕疵影像，而該已高階奇異值分解瑕疵影像包含一第一階奇異值分解瑕疵影像、數個第二階奇異值分解瑕疵影像或數個第三階奇異值分解瑕疵影像，且該R通道瑕疵影像、G通道瑕疵影像及B通道瑕疵影像對應於該第一階奇異值分解瑕疵影像、第二階奇異值分解瑕疵影像或第三階奇異值分解瑕疵影像。 10.依申請專利範圍第8項所述之護目鏡瑕疵檢測處理系統，其中該瑕疵影像包含一灰塵瑕疵影像、一聚光點瑕疵影像或一水漬痕瑕疵影像。 |
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