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【I943237】汞離子檢測之感測器及其方法 MERCURY ION DETECTION SENSOR DEVICE AND SENSING METHOD THEREOF

書目
公告號 I943237 公開202622499
公告日 2026/10/21
公報卷期 53-30
證書號 I943237
申請號 113144744 E
申請日 2024/11/20
公報IPC G01N 33/205(2019.01); G01N 21/64(2006.01)
當前IPC G01N 33/205(2019.01); G01N 21/64(2006.01)
申請人 國立高雄科技大學 高雄市三民區建工路415號 (中華民國);
NATIONAL KAOHSIUNG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY 415 CHIEN-KUNG RD., KAOHSIUNG, TAIWAN (TW)
　申請人
標準名稱		 國立高雄科技大學;
NATIONAL KAOHSIUNG UNIV OF SCIENCE AND TECH
當前專利權人 國立高雄科技大學; NATIONAL KAOHSIUNG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY
　專利權人
標準名稱		 國立高雄科技大學; NATIONAL KAOHSIUNG UNIV OF SCIENCE AND TECH
發明人 江家慶 (中華民國); CHIANG, CHIA-CHIN (TW);
溫新宜 (中華民國); WEN, HSIN-YI (TW);
潘富川 (中華民國); PAN, FU-CHUAN (TW);
徐易廷 (中華民國); HSU, YI-TING (TW);
陳郁晴 (中華民國); CHEN, YU-CHING (TW)
代理人 王志中
當前代理人 王志中
審查委員 林永昌
摘要 一種汞離子檢測之感測方法包含：提供一感測元件，並製備一凝膠材料及一量子點材料，且該量子點材料具有一螢光特性，並將該凝膠材料及量子點材料進行混合，以形成一含量子點之螢光凝膠材料，且該含量子點之螢光凝膠材料具有可放射一螢光強度，且將該含量子點之螢光凝膠材料配置於該感測元件之一預定感測位置上，以形成一感測薄膜層，且將該感測薄膜層之含量子點之螢光凝膠材料置於一待測樣本時，於該待測樣本中一汞離子濃度導致該含量子點之螢光凝膠材料產生一螢光強度變化。

參考文獻
引用專利 US2014/0234856A1 E
引用非專利 網路文獻 Lu, Zhiwei et al. Machine Learning System To Monitor Hg 2+ and Sulfide Using a Polychromatic Fluorescence-Colorimetric Paper Sensor ACS Applied Materials & Interfaces (2023),15,9800-9812

專利範圍   原始格式
專利範圍 1.一種汞離子檢測之感測器，其包含：至少一感測元件，其具有一預定感測位置；及至少一感測薄膜層，其形成於該感測元件之預定感測位置上；其中該感測薄膜層包含：至少一凝膠材料，其用以提供一承載體物質；至少一量子點材料，其具有一螢光特性，且該量子點材料選自一核-殼型量子點材料或一具類似核-殼結構之量子點材料，且該核-殼型量子點材料選自一硒化鎘/氧化鋅量子點材料或一含硒化鎘/氧化鋅之量子點材料；及一含量子點之螢光凝膠材料，其由該凝膠材料及量子點材料進行混合而形成，且該含量子點之螢光凝膠材料具有可放射一螢光強度；其中將該感測薄膜層之含量子點之螢光凝膠材料置於一待測樣本時，於該待測樣本中一汞離子濃度導致該含量子點之螢光凝膠材料產生一螢光強度變化。

2.依申請專利範圍第1項所述之汞離子檢測之感測器，其中該感測元件選自一光纖元件、一探針元件、一試劑紙元件或其任意組合。

3.依申請專利範圍第1項所述之汞離子檢測之感測器，其中該預定感測位置選自一感測端面、一感測末端、一感測部、一感測區或其任意組合。

4.依申請專利範圍第1項所述之汞離子檢測之感測器，其中該預定感測位置具有至少一預先處理表面。

5.依申請專利範圍第1項所述之汞離子檢測之感測器，其中該凝膠材料選自一水凝膠塗料或一水凝膠高分子塗料。

6.一種汞離子檢測之感測方法，其包含：提供一感測元件，且該感測元件具有一預定感測位置；製備一凝膠材料，且該凝膠材料用以提供一承載體物質；製備一量子點材料，且該量子點材料具有一螢光特性，且該量子點材料選自一核-殼型量子點材料或一具類似核-殼結構之量子點材料，且該核-殼型量子點材料選自一硒化鎘/氧化鋅量子點材料或一含硒化鎘/氧化鋅之量子點材料；將該凝膠材料及量子點材料進行混合，以形成一含量子點之螢光凝膠材料，且該含量子點之螢光凝膠材料具有可放射一螢光強度；將該含量子點之螢光凝膠材料配置於該感測元件之預定感測位置上，以形成一感測薄膜層；及將該感測薄膜層之含量子點之螢光凝膠材料置於一待測樣本時，於該待測樣本中一汞離子濃度導致該含量子點之螢光凝膠材料產生一螢光強度變化。

7.依申請專利範圍第6項所述之汞離子檢測之感測方法，其中該感測薄膜層選自一單一感測薄膜層或一複合感測薄膜層。

8.依申請專利範圍第6項所述之汞離子檢測之感測方法，其中該感測薄膜層具有一預定厚度範圍，而該預定厚度範圍具有一較佳靈敏度，且該預定厚度範圍約為1.0μm至6.0μm之間。

9.依申請專利範圍第6項所述之汞離子檢測之感測方法，其中該感測薄膜層具有一預定厚度，而該預定厚度具有一較佳靈敏度，且該預定厚度約為5.2μm。

10.依申請專利範圍第6項所述之汞離子檢測之感測方法，其中該感測薄膜層利用該含量子點之螢光凝膠材料選擇採用一旋塗法、一噴塗法或兩者而形成。
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