【專利讓售】工件輪廓的光學量測系統及量測方法

【專利讓售】工件輪廓的光學量測系統及量測方法 (公告日期：2023/4/18)

本校擬將所擁有之優質專利，以有價讓售之方式提供國內外廠商、自然人，促進整體產業發展及提升研發成果運用效益。

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專利名稱	工件輪廓的光學量測系統及量測方法
申請號	106140996	申請日	2017/11/24
專利證號	I645157	專利權人	國立高雄科技大學
發明人	許光城
主IPC分類碼	G01B 11/24(2006.01); G01C 11/02(2006.01)
專利摘要	一種工件輪廓的光學量測系統及量測方法，該工件輪廓的光學量測系統包含一座體、一量測平台、一校正點層、至少一取像鏡頭及一處理器；藉由校正點層及量測平台的設置，能夠降低設備的成本，並且達到工件所需之檢測精度。

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